研究方法：

光电子能谱-XPS

XPS表面分析方法，样品表面的元素含量与形态，深度约为3-5nm。
表面分析的主要内容有：
？表面化学组成：
表面元素组成、表面元素的分布、表面化学键、化学反应等
？表面结构：
表面原子排列、表面缺陷、表面形貌
？表面原子态：
表面原子振动状态、表面吸附(吸附能吸附位) 等
？表面电子态：
表面电荷密度分布及能量分布、表面能级性质、表面态密度分布、价带结构